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自动化测试装备

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光器件测试

光器件测试

光引擎测试

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可见光 Bar 条测试

可见光 Bar 条测试

PSS BART-HP

可见光BAR条自动测试机用于巴条LIV曲线，光谱，远场自动测量。全自动上下料，支持料盒上料，支持料盒或蓝膜下料。常温、高温双温测试，测试温度可由用户自定。探针加电，测试NG chip采取打点标记，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

可见光类Bar单工位测试，支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试。

PSS BART-HP

数据通信双工位Chip测试

数据通信双工位Chip测试

PSS CHIP22406

本设备应用于光芯片LD-CHIP高温/常温LIV测试、SMSR测试及背光抽测并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片wafer蓝膜上料，CHIP-ID自动识别记忆匹配测试，顺利获得蓝膜顶针剥离组织，吸嘴吸取，机械手分别搬运到高温及常温测试区域，自动摆位，自动测试，分析筛选，机械手搬运分档归类。此设备具有高速、高精度特点，实现了复杂时序、严密逻辑的工艺过程。设备采用了偏心凸轮驱动、连杆及精密夹具等组织，配合多轴运动、视觉定位、视觉字符匹配等技术，具有批量生产能力。

数据通信类Chip双工位测试，支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试。

PSS CHIP22406

可见光 Chip测试

可见光 Chip测试

PSS CHIP12806-P

本设备应用于可见光CHIP常温PIV测试、光谱测试并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片蓝膜上料，自动寻料、识别定位，顺利获得蓝膜顶针剥离芯片、吸嘴吸取、机械手完成搬运，视觉识别并校准位置、自动加电收集发光参数、测试PIV/光谱、分析筛选、机械手搬运分档到不同蓝膜档位。此设备具有高速、高精度特点，实现了复杂时序、严密逻辑的工艺过程。设备采用了直线电机、高精度模组运动、凸轮等组织，配合多轴运动、视觉定位、ORC识别等技术，具有批量生产能力。

可见光类Chip单工位测试，支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试。

PSS CHIP12806-P

COB测试机

PSS COBT2001

qy·球友会(中国)PSS COBT2001系列自动测试系统，适用于VCSEL多模封装光学耦合前后的模块测试需求。设备不仅验证COB模块本身的功能和光学部分的可靠性，还用于VCSEL光芯片的可靠性验证测试。独有的收光装置可覆盖不同功率的测试对象，亦可保证功率测试重复性，支持VCC、ICC、PO、ITH、SE等相关参数测试，设备具备一致性好，高可靠性，高效生产等特点，兼容PSS老化板，其他品牌老化板，支持双板4工位并行测试，一站式完成SFP、QSFP、QSFP-DD、OSFP等封装的测试。

光引擎COB测试，支持DDMI、Ith、SE等相关参数测试。

PSS COBT2001

可见光COB自动测试机

可见光COB自动测试机

PSS_COBT10201

qy·球友会(中国)COB自动测试系统主要应用于可见光COB模组的性能测试，配置全自动上下料机械手，实现高度自动化，减少人为操作和干预，测试效率高。

用于可见光COB模组测试，支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试。

PSS_COBT10201

数据通信VCSEL晶圆测试

数据通信VCSEL晶圆测试

PSS WT-8502

qy·球友会(中国)光通信VCSEL测试机用于面发射类型VCSEL的Wafer测试，支持芯片的LIV、光谱相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持常温、高温双温测试，高温测试温度可由用户自定。兼容多种不同尺寸的Wafer，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

850nm VCSEL的Wafer测试，支持LIV、光谱相关参数的测试

PSS WT-8502

激光雷达VCSEL晶圆测试

激光雷达VCSEL晶圆测试

PSS WT-VL602

qy·球友会(中国)高功率VCSEL测试机用于垂直腔面发射类型激光器芯片的Wafer测试，支持100ns级脉宽最大30A电流的LIV、光谱、近场、远场相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持Chuck设置25~85℃温度测试。标配6inch Wafer测试，兼容2、4inch晶圆及破片测试，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。

激光雷达类VCSEL的Wafer测试，支持LIV、光谱、NF、FF相关参数的测试

PSS WT-VL602

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