qy·球友会(中国)

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数据通信双工位Bar 条测试

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qy·球友会(中国)双工位常高温BAR条自动测试机(PSS BAR-HT2201)用于DFB/EML等类型巴条常高温测试，可支持LIV、光谱、发散角、偏振等光电特性测试。全自动上下料，非黏性料盒上料，Disco蓝膜环下料。双测试系统双载台，温度可由用户自定：20~90℃。向用户开放测量数据，用于后续筛分工序。数据通信双工位Bar 条测试机，功能齐全，兼容性强。

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    • 商品名称: 数据通信双工位Bar 条测试
    • 型号: PSS BAR-HT2201
    • 描述: 数据通信类Bar双工位测试，支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试。

    qy·球友会(中国)双工位常高温BAR条自动测试机(PSS BAR-HT2201)用于DFB/EML等类型巴条常高温测试，可支持LIV、光谱、发散角、偏振等光电特性测试。全自动上下料，非黏性料盒上料，Disco蓝膜环下料。双测试系统双载台，温度可由用户自定：20~90℃。向用户开放测量数据，用于后续筛分工序。数据通信双工位Bar 条测试机，功能齐全，兼容性强。

    应用

    1、用于DFB/EML BAR条批量生产自动测试；
    2、用于测试研究BAR条级DFB/EML 类型芯片在常温、高温条件下LIV、光谱和发散角特性；

     

    特点

    1、支持多种主流规格料盒，全自动上下料，避免转料或人工操作对巴条chip造成的报废；


    2、上下料料盒配磁吸式夹具，支持快速更换不同规格料盒或蓝膜盘；
    3、支持BAR条自动上料、首颗chip识别定位，支持ID识别、自动测试、自动判断BAR条测试结束、自动下料；


    4、吸嘴、探针与BAR条接触压力可调；
    5、支持单探针、双探针、多探针加电的形态；


    6、支持前光LIV曲线、功率、光谱测量，背光功率测量，EA、SOA相关测试，多参数多条件筛分，尽可能筛选出不良chip，避免流入后道工序；


    7、选配MAP图绘制，方便用户对wafer的性能分布情况分析；


    8、支持NG Chip打点标记，支持简单的芯片外观检查；
    9、支持常温、高温测试，常温台支持温控；
    10、多维度可调测量结构，满足用户对不同规格巴条测量需求；

     

    规格

PSS规格书联系方式

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